?Jandel可变高度测试台(Automatic)Multiheight

2024年06月27日 16:17:32 人气: 189 来源: 赫尔纳贸易（大连）有限公司

Jandel可变高度测试台(Automatic)Multiheight

公司简介：

英国Jandel公司成立于1967年，专注于四探针探头和测试仪器生产，其精准的测试结果以及精密的设计赢得国际同行的高度认可和推崇。目前各种不同形状、规格的四探针探头已成为众多国际一线四探针测试仪生产厂家的核心部件。

产品类别：

jandel可变高度测试台

jandel多位晶片测试台

jandel四探针测试仪专用圆柱形探头

jandel微定位测试台

jandel多用型测试台

主要型号：

(Automatic)Multiheight

产品介绍：

l 应用广泛，可测量薄膜、晶片以及锭

l Z轴可变高度

l Automatic Multiheight(AFPP)配有压力传感器，探针与样品接触时自动停止功能，避免超压保护样品和探针

优势特点：

l 样品：尺寸直径不超过250mm的样品（可选择直径为300mm的样品，无需额外费用）

l 样品：厚度可测量高达250mm的样品（如有要求，可测量更高的样品）

l 微动开关防止探针与样本不接触时电流流动

l 手动控制探针接触和拆卸的简单杠杆操作

l 简单设置单线连接探针支架和测量电子设备

l 安装孔可选样品台

jandel可变高度测试台主要应用：

半导体电阻率测量

全年征稿/资讯合作 联系邮箱：afzhan@foxmail.com

版权与免责声明: 1、凡本网注明"来源：智慧城市网"的所有作品，版权均属于智慧城市网，转载请必须注明智慧城市网，https://www.afzhan.com。违反者本网将追究相关法律责任。; 2、企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容，如涉及侵权、违规遭投诉的，一律由发布企业自行承担责任，本网有权删除内容并追溯责任。; 3、本网转载并注明自其它来源的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品来源，并自负版权等法律责任。; 4、如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。

企业推荐

产品推荐

企业新闻